HY(IC)衡翼卡片扭曲測(cè)試機(jī)技 術(shù) 參 數(shù): 本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。 外形尺寸:L670 X W380 X H220 儀器重量:70kg 電 壓:AC220V±5% 功 率:35W 測(cè)試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz 測(cè)試周期:1~9999次 扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm 正反向各15°,總扭曲角度30° 長(zhǎng)邊Z大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm) 長(zhǎng)邊Z小位移量為2mm±0.50mm, 短邊Z大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm) 長(zhǎng)邊Z小位移量為1mm±0.50mm, 夾具安裝尺寸*按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。 3、衡翼卡片扭曲測(cè)試機(jī)產(chǎn)品用途: 衡翼卡片扭曲測(cè)試機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。 |